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簡要描述:Phenom GSRqiang擊(ji)殘留物臺(tai)式掃(sao)描(miao)(miao)電(dian)鏡(jing)(jing)在qiangzhi犯罪事件中(zhong),qiang擊(ji)殘留物 GSR 的(de)(de)分(fen)析將發揮(hui)重要的(de)(de)作用(yong)。GSR 分(fen)析技術首(shou)先基于(yu)掃(sao)描(miao)(miao)電(dian)子(zi)顯微鏡(jing)(jing) (SEM) 的(de)(de)背散射成像,用(yong)來(lai)掃(sao)描(miao)(miao)樣品和發現可疑的(de)(de) “GSR" 顆粒(li)。一旦發現可疑的(de)(de)顆粒(li),使(shi)用(yong)能(neng)譜識別(bie)在該粒(li)子(zi)中(zhong)的(de)(de)元素。Z常見的(de)(de)搜(sou)(sou)索元素為 Pb,Sb 和 Ba。無鉛底火的(de)(de)檢測(ce),例如 Ti 和 Zn 也可Z為搜(sou)(sou)索條件進(jin)行(xing)搜(sou)(sou)索。
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Phenom GSRqiang擊殘留物臺式掃描電鏡在qiangzhi犯罪事件(jian)中,qiangzhi殘留(liu)物 GSR 的(de)分析(xi)將發揮重要的(de)作用(yong)。GSR 分析(xi)技術首先基于掃描電子顯微(wei)鏡 (SEM) 的(de)背(bei)散射成像,用(yong)來掃描樣品和(he)發現可(ke)疑(yi)的(de) “GSR” 顆粒。一旦發現可(ke)疑(yi)的(de)顆粒,使用(yong)能譜(EDS)識別在該粒子中的(de)元素。 常(chang)見的(de)搜(sou)索元素為(wei) Pb,Sb 和(he) Ba。無鉛底火的(de)檢測,例如 Ti 和(he) Zn 也可(ke) 為(wei)搜(sou)索條件(jian)進行(xing)搜(sou)索。
Phenom GSRqiang擊殘留物臺式掃描電鏡自動(dong)qiangzhi殘留(liu)物(wu)分析(xi)是*在臺(tai)(tai)式掃(sao)描電(dian)鏡運行(xing)自動(dong)qiangzhi殘留(liu)物(wu)分析(xi)軟件。其設計基于飛納臺(tai)(tai)式掃(sao)描電(dian)鏡大(da)樣品(pin)室版(ban) Phenom XL。軟件和硬件*一體化(hua),以提高用戶操作界面友好性(xing),可(ke)靠性(xing)和分析(xi)速(su)度。Phenom GSR 包括(kuo)以下(xia)三(san)個項目(mu):自動(dong)槍擊殘留(liu)物(wu)分析(xi)和分類軟件包,BSED 和 EDS 探頭內部(bu)集成,校準試樣。
Phenom GSR自(zi)(zi)動qiangzhi殘(can)留(liu)(liu)物分析(xi)配備 CeB6 燈(deng)絲(si),使其穩定運行(xing),燈(deng)絲(si)壽命不低于(yu) 1500 個小(xiao)時,從可用(yong)性,適用(yong)性和(he)運行(xing)時間(jian)的(de)(de)(de)角(jiao)度(du)來看都非常理想(xiang)。小(xiao)于(yu) 1 分鐘的(de)(de)(de)加載時間(jian),和(he)快速的(de)(de)(de)全自(zi)(zi)動馬達樣品臺,使得飛納 GSR 成為高度(du)自(zi)(zi)動化應用(yong)的(de)(de)(de)理想(xiang)工具,可以用(yong)來進行(xing)自(zi)(zi)動qiang擊殘(can)留(liu)(liu)物分析(xi)。
Phenom GSR | |
光學放大 | 3 - 16 X |
電子光學放大 | 80 - 100,000 X |
分辨率 | 優于 20 nm |
數字放大 | Max. 12 X |
光學導航相機 | 彩色 |
加速電壓 | 4.8 Kv - 20.5 Kv 連續可調 |
真空模式 | 高分辨率模式 |
降低核電效應模式 | |
高真空模式 | |
探測器 | 背散射電子探測器 |
二次電子探測器 (選配) | |
樣品尺寸 | 大 100 mm X 100 mm |
可同時裝載 36 個 0.5 英寸樣品臺 | |
樣品高度 | 高 65 mm,樣品高度全自動調節 |
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