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歷(li)時6年的(de)研發(fa)(fa)，荷(he)蘭飛納公司于(yu)2018年推出了首套穩定(ding)運行(xing)的(de)臺式(shi)場發(fa)(fa)射（FEG）電(dian)鏡(jing)能(neng)譜一體機Phenom LE臺式(shi)場發(fa)(fa)射電(dian)鏡(jing)能(neng)譜一體機，采用肖特基場發(fa)(fa)射電(dian)子(zi)槍（FEG），集背散射電(dian)子(zi)成(cheng)像、二次電(dian)子(zi)成(cheng)像和能(neng)譜分析于(yu)一體。飛納臺式(shi)場發(fa)(fa)射電(dian)鏡(jing)操作(zuo)簡單，效率高，無需防(fang)震臺和磁屏蔽，無樓層(ceng)要(yao)求，只需要(yao)一張(zhang)承重200kg的(de)桌子(zi)。
Delphi CLEM熒光(guang)掃(sao)描電鏡(jing)一體機是荷蘭(lan)掃(sao)描電鏡(jing)制造(zao)商(shang) Phenom-World 和(he)荷蘭(lan)熒光(guang)顯微鏡(jing)制造(zao)商(shang) Delmic 于 2014 年聯合推出的(de)將熒光(guang)顯微鏡(jing)和(he)臺式電鏡(jing)高度整(zheng)合在一起的(de)設備。
Phenom GSRqiang擊(ji)殘留物臺式掃(sao)描(miao)(miao)電鏡(jing)在qiangzhi犯(fan)罪事(shi)件中，qiang擊(ji)殘留物 GSR 的(de)(de)分析將發(fa)揮重要的(de)(de)作用(yong)(yong)。GSR 分析技術首先(xian)基于掃(sao)描(miao)(miao)電子顯微鏡(jing) （SEM） 的(de)(de)背散射(she)成像，用(yong)(yong)來(lai)掃(sao)描(miao)(miao)樣品和發(fa)現(xian)可疑的(de)(de) “GSR” 顆粒(li)。一旦(dan)發(fa)現(xian)可疑的(de)(de)顆粒(li)，使用(yong)(yong)能譜識別在該粒(li)子中的(de)(de)元素(su)。Z常(chang)見的(de)(de)搜(sou)索元素(su)為 Pb，Sb 和 Ba。無鉛底火的(de)(de)檢測，例如 Ti 和 Zn 也可Z為搜(sou)索條件進行搜(sou)索。
Phenom Pure 高性價比標準版電(dian)(dian)子顯(xian)微鏡(jing)是一款(kuan)操作方(fang)便、界面友好的(de)臺式電(dian)(dian)鏡(jing)，用(yong)慣(guan)光學顯(xian)微鏡(jing)的(de)用(yong)戶(hu)只需(xu)稍加培(pei)訓即可(ke)輕松操作這(zhe)款(kuan)電(dian)(dian)鏡(jing)。這(zhe)款(kuan)電(dian)(dian)鏡(jing)具有掃描(miao)電(dian)(dian)鏡(jing)的(de)一切(qie)基(ji)本功能(neng)，可(ke)以滿足用(yong)戶(hu)的(de)大部分成像需(xu)求。
Phenom Pro高(gao)(gao)分(fen)(fen)辨(bian)(bian)率(lv)專(zhuan)業版(ban)電子顯(xian)微鏡是飛納(na)電鏡系列(lie)中(zhong)良好的(de)(de)產品，第五代 Phenom Pro 放大(da)倍(bei)數(shu)提(ti)升為 150,000 倍(bei)，分(fen)(fen)辨(bian)(bian)率(lv)優于 8 nm，30 秒快速得到表面細節豐(feng)富(fu)的(de)(de)高(gao)(gao)質量圖像(xiang)，是目前世(shi)界(jie)上分(fen)(fen)辨(bian)(bian)率(lv)Z高(gao)(gao)的(de)(de)臺(tai)式掃描電鏡，可用(yong)于測量亞微米(mi)或納(na)米(mi)尺(chi)度的(de)(de)樣品；
Phenom ProX 是(shi)第五(wu)代電鏡能譜一體(ti)機(ji)，是(shi)*的(de)集成化成像(xiang)分析(xi)系統，分辨率提升 20%，進(jin)一步增加應(ying)用范圍，更加適用于對電子束(shu)敏感的(de)樣(yang)品。借助該系統，既可觀察樣(yang)品的(de)表面形貌(mao)，又可分析(xi)其元素組分。
