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簡(jian)要(yao)描述:Phenom Pro高(gao)分辨(bian)(bian)率專業版(ban)電子顯微(wei)鏡(jing)是飛納電鏡(jing)系列(lie)中(zhong)良(liang)好的(de)產品,第(di)五代 Phenom Pro 放大倍數提升(sheng)為(wei) 150,000 倍,分辨(bian)(bian)率優于 8 nm,30 秒(miao)快速得到表面細節(jie)豐富的(de)高(gao)質量圖(tu)像,是目前世(shi)界(jie)上分辨(bian)(bian)率Z高(gao)的(de)臺(tai)式(shi)掃描(miao)電鏡(jing),可用于測量亞微(wei)米或納米尺度(du)的(de)樣品;
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Phenom Pro高分辨率專業版電子顯微鏡是飛納(na)電鏡系(xi)列(lie)中良好的產品,第(di)五代 Phenom Pro 放大倍數提升為 150,000 倍,分辨率(lv)優(you)(you)于(yu) 8 nm,30 秒快速(su)得到表面(mian)細節豐富(fu)的高質(zhi)量圖(tu)像,是目前世界上分辨率(lv) 高的臺式(shi)掃描電鏡,可用于(yu)測量亞微米或納(na)米尺(chi)度的樣品;飛納(na)高分辨率(lv)專(zhuan)業版 Phenom Pro 繼(ji)承了(le)飛納(na)電鏡系(xi)列(lie)高分辨率(lv)、15 秒快速(su)抽真空(kong)、不噴金觀看緣體、全自動(dong)操作、2-3 年(nian)更換燈絲及(ji)防震設(she)計等優(you)(you)點,點擊電鏡特色了(le)解(jie)更多。
Phenom Pro高分辨率專業版電子顯微鏡可(ke)選(xuan)配豐富的拓展功(gong)能(neng)選(xuan)件(jian),如 3D 粗糙度(du)重建(3D Roughness Reconstruction)、纖(xian)維統(tong)計(ji)(ji)分(fen)析測(ce)(ce)(ce)量(liang)系統(tong)(FiberMetric)、孔徑統(tong)計(ji)(ji)分(fen)析測(ce)(ce)(ce)量(liang)系統(tong)(PoreMetric)、顆(ke)粒統(tong)計(ji)(ji)分(fen)析測(ce)(ce)(ce)量(liang)系統(tong)(ParticleMetric)、超大視野拼圖(tu)(tu)(Auto Image Mapping)、遠程操作等(deng)。軟件(jian)可(ke)以(yi)自動(dong)采集數據、處(chu)理圖(tu)(tu)片。比如,纖(xian)維統(tong)計(ji)(ji)測(ce)(ce)(ce)量(liang)系統(tong)可(ke)以(yi)自動(dong)識別、測(ce)(ce)(ce)量(liang)纖(xian)維樣品,而大視野拼圖(tu)(tu) 則(ze)自動(dong)采集生成高分(fen)辨、大視野的樣品全(quan)景照片,等(deng)等(deng)…
除此之外,還有各種(zhong)各樣(yang)(yang)(yang)的(de)樣(yang)(yang)(yang)品(pin)杯(bei)可(ke)(ke)供(gong)選擇,這些樣(yang)(yang)(yang)品(pin)杯(bei)使得樣(yang)(yang)(yang)品(pin)的(de)裝載(zai)更(geng)加便利(li)。無論是對于長軸狀樣(yang)(yang)(yang)品(pin),還是生(sheng)物材(cai)料(liao),或者其它種(zhong)類的(de)材(cai)料(liao),總有一(yi)款合適的(de)樣(yang)(yang)(yang)品(pin)杯(bei)可(ke)(ke)以提(ti)供(gong)*的(de)解(jie)決方(fang)案。
Phenom Pro
Phenom Pro | Phenom ProX | Phenom XL | |
光學放大 | 20 - 135 X | 20 - 135 X | 3 - 16 X |
電子光學放大 | 80 - 150,000 X | 80 - 150,000 X | 80 - 100,000 X |
分辨率 | 優于 8 nm | 優于 8 nm | 優于 14 nm |
數字放大 | Max. 12 X | Max. 12 X | Max. 12 X |
光學導航相機 | 彩色 | 彩色 | 彩色 |
加速電壓 | 5 Kv - 15 Kv 連續可調 | 5 Kv - 15 Kv 連續可調 | 5 Kv - 20 Kv 連續可調 |
真空模式 | 高分辨率模式 | 高分辨率模式 | 高分辨率模式 |
降低荷電效應模式 | 降低荷電效應模式 | 降低荷電效應模式 | |
高真空模式 | |||
探測器 | 背散射電子探測器 | 背散射電子探測器 | 背散射電子探測器 |
二次電子探測器 (選配) | 二次電子探測器 (選配) | 二次電子探測器 (選配) | |
樣品尺寸 | 大直徑 32 mm (Ø) | 大直徑 32 mm (Ø) | 大 100 mm X 100 mm |
可同時裝載 36 個 0.5 英寸樣品臺 | |||
樣品高度 | 高 100 mm | 高 100 mm | 高 65 mm |
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